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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：

華測(cè) 鐵電性能綜合測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：Huace FE

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-10-23

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

華測(cè) 鐵電性能綜合測(cè)試儀內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或較高)、RAM(8G 或較大)、固態(tài)硬盤(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD 光驅(qū)、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。

產(chǎn)品特性Product characteristics

品牌	華測(cè)	內(nèi)置電壓 (可外接高壓放大器)	±10V （可外接不同型號(hào)放大器）
可外接高壓放大器（最大可外接20KV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊）	±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV	ADC位數(shù)	18位
zui小電荷分辨率	<10fC	zui大電荷分辨率	27.6mC
zui小面積分辨率	<1μ2	zui大面積分辨率	>100cm2
zui大電滯回線測(cè)試頻率	270KHz @10V	zui低測(cè)試頻率	0.03Hz
最小脈沖寬度 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)	0.5us

華測(cè) 鐵電性能綜合測(cè)試儀

產(chǎn)品介紹：

華測(cè) 鐵電性能綜合測(cè)試儀有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV、10kV、20kV， Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能。內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或較高)、RAM (8G 或較大)、固態(tài)硬盤(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD 光驅(qū)、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。

可擴(kuò)展部件：

可與高低溫冷熱臺(tái)、高溫測(cè)試裝置、探針臺(tái)、高壓放大器、高阻計(jì)、阻抗分析儀、激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴(kuò)展。

塊體測(cè)試夾具：用于厚膜、塊體鐵電、擊穿測(cè)試可擴(kuò)展變溫功能。

薄膜四探針探針臺(tái)：室溫到 250℃ 可用于厚膜鐵電、壓電（e31）、熱釋電測(cè)試。

薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)： -196℃到+600℃ 可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試。

薄膜探針臺(tái)（國(guó)產(chǎn)）：室溫鐵電測(cè)試可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測(cè)試

鐵電主機(jī)優(yōu)勢(shì)在于他易于擴(kuò)展、實(shí)用，軟件系統(tǒng)兼容主流品牌，軟件無(wú)縫切換。為用戶降低成本。

█ 介電測(cè)試分析模塊

█ 熱激發(fā)極化電流測(cè)試TSDC

█ 擊穿電壓測(cè)試

█ 高壓極化

█ 絕緣電阻測(cè)試