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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：
薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器
產(chǎn)品型號(hào)：HCRD-2
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
所在地：北京市
更新日期：2024-08-30
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式，本產(chǎn)品是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜 第2部分：試驗(yàn)方法及其第1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測(cè) |
|---|
薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀
一、薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀工作原理：
薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀試驗(yàn)電壓是0－20kV交直流電壓，其波動(dòng)為±1%。測(cè)試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來(lái)設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿，擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。
二、薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀主要特點(diǎn):
1、薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
2、測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。
3、主要元器件均選用品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。
4、測(cè)量，復(fù)現(xiàn)性好。
5、測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。
6、擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
7、多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的安全性。
8、過(guò)壓、過(guò)流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門(mén)開(kāi)啟保護(hù)。
三、薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀儀器參數(shù)：
試驗(yàn)電壓 | 0～5000V （AC、DC） | 輸入電壓 | 220V |
電壓精度 | ±1% | 有效測(cè)量圍 | 0～5kV（AC\DC） |
保護(hù)電流 | 0～40mA | 電流精度 | ±1% |
膜移動(dòng)速度 | 3-10m/min 連續(xù)可調(diào) | 試樣寬度 | 60～650mm(可調(diào)) |
高壓防護(hù) | TVS | 升壓方式 | SPWM |
控制系統(tǒng) | 嵌入式工控機(jī) | 控制方式 | 觸摸屏 |
功率 | 1kW | 數(shù)據(jù)傳輸 | 2個(gè)USB接口 |
儀器尺寸 | 220 mm x 230 mm x70mm | 供電方式 | 220V（50HZ） |
四、薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 13542-2009《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》
IEC 60674-2:1988《電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置》
JB 3282《固體絕緣材料相對(duì)耐表面放電擊穿性能試驗(yàn)方法》
薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器
薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器
